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OLED寿命老化测试系统

该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统,主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。
 
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产品概述

简介

该系统是集成系统检测软件、多通道电源、硅光电二极管光电转换、工控机为一体的自动化检测系统,主要应用于OLED TEG/JIG加速老化寿命测试。

系统主要测试参数

绘制OLED寿命老化曲线

系统特点
  • 可根据实际需要定制多通道测量(96通道、128通道)
  • 可提供恒温恒湿测试环境,模拟真实使用情况

恒温恒湿箱参数:

箱体尺寸

具体尺寸待定

温度范围

-40℃~150℃,或-20℃~150℃,或0℃~+150℃多个温度范围(用户可根据实际测试需求选择)

升温速率

2℃~4℃/min[从常温升到最高温、非线性空载)

降温速率

0.7℃~1.0℃/min[从常温升到最高温、非线性空载)

解析精度(显示)

温度:±0.01℃

解析湿度(显示)

±0.1%R.H

温度波动度

±0.5℃

温度均匀度

±2.0℃

湿度范围

20%~98%R.H [25℃-85℃内]

湿度波动度

±2.0%R.H.

湿度偏差

±3%  [湿度>75%RH 时]

总功率/电压

5KW/380V

控制功能

触控显示屏,温度设定可采用定值或程式编辑,可定时;标配USB接口,电脑只可读取温度数据,不能控制温度,需通过触控显示屏操作

测试原理

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